首 頁 下載中心 網站地圖 English
 
  您現在的位置: 北京英格海德分析技術有限公司 > 產品展示 > 等離子體-材料表面 > 二次離子質譜工作站
二次離子質譜工作站
The Hiden SIMS Workstation provides for high performance static and dynamic SIMS applications for detailed surface composition analysis and depth profiling.

SIMS 工作站(SIMS Workstationa complete SIMS Analysis Facility) ,綜合UHV / SIMS 設備,進行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。

 

·整合的離子源,便于RGASNMS

·各類型樣品的快速轉向

·陰、陽離子、中性粒子、自由基的質量、能量分析儀

·整合的離子槍光柵控制和信號選通,進行深度分析
·絕緣體研究中的電子流槍用于電荷中和
·液氮冷井和真空室烘烤加熱器
·自動的SIMS 離子光學透鏡調諧和質量數列表,使SIMS性能最佳

 

·Hiden EQS SIMS 分析儀,運行于 MASsoft O/S 之下,檢測限至ppb

·基本的激發源選擇: 帶差式泵的Hiden IG20 IonIFG200 FAB或高性能液態鎵槍
·快速樣品傳遞,樣品固定,負載鎖定的操縱器
·4 軸:X, Y, Z, θ UHV 操縱器,以最佳定位樣品
·加上ESM LabVIEWSIMS 成像程序,進行SIMS元素成像
·靜態SIMS譜圖庫可用

? Copyright 2014. www.391352.buzz. All Rights Reserved 京ICP備05008133號  京公網安備11010802009820

???????
北京赛车pk10现场直播 陕西快乐十分开奖视频 吉林11选五规则玩法介绍 体育彩票开奖时间日期 广西快3号码遗漏 北京十一选五走势图一定牛网一定牛 中国体育彩票飞鱼游戏 北京快3开奖和值 股票涨跌影响总资产 福彩陕西快乐十分钟 赌场扑克牌有什么玩法 三点一线炒股法 云南时时彩开奖走势图 多彩科技网辽宁快乐12 贵州十一选五走玩法 正规股票配资平台代理 福彩3d彩票app下载